陈富贵
【姓名】 陈富贵
【职称】
【研究领域】 工业通用技术及设备;材料科学;电力工业;
【研究方向】
【发表文献关键词】 铁电薄膜,PZT铁电薄膜,印迹,矫顽,射频磁控溅射法,疲劳特性,氧化锌薄膜,磁控溅射,氧分压,择优取向,界面层,钛酸铅,无机非金属材料,结晶取向,剩余极化,基片温度,铁电性,电压偏移量,矫顽场,表面形...
【工作单位】 电子科技大学
【曾工作单位】 电子科技大学;
【所在地域】 成都
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中国期刊全文数据库    共找到4篇
[1]陈祝;张树人;杨成韬;陈富贵;董加和;王升;.RF溅射ZnO薄膜工艺与结构研究[J]电子元件与材料.2006,(07)
[2]陈祝;张树人;杜善义;杨成韬;陈富贵;董加和;孙明霞;.c轴择优取向ZnO薄膜RF溅射工艺研究[J]压电与声光.2007,(03)
[3]田召明,张树人,陈富贵,杨成韬.退火工艺对Pb(Zr_(0.55)Ti_(0.45))O_3铁电薄膜结晶取向的影响[J]信息记录材料.2005,(03)
[4]陈富贵,杨成韬,刘敬松,田召明,彭家根,张树人.PZT铁电薄膜的印迹研究[J]电子元件与材料.2005,(05)
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中国优秀硕士学位论文全文数据库    共找到1篇
[1]陈富贵.PZT铁电薄膜的疲劳与老化特性研究[D].电子科技大学.2005
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[1]田召明;张树人;刘劲松;陈富贵;杨成韬;.铁电薄膜极化反转电流的电场和温度特性研究[A].第五届中国功能材料及其应用学术会议论文集Ⅲ.2004-09-01
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