单伟国
【姓名】 单伟国
【职称】
【研究领域】 无线电电子学;电信技术;
【研究方向】
【发表文献关键词】 共面波导,传输线,绝缘体上硅,地屏蔽,插入损耗,导体损耗,屏蔽技术,表面电阻率,低阻硅衬底,材料制备,高阻硅,线宽度,衬底材料,测试结果,损耗特性,损耗比,制作,不同材料,降低,采用,
【工作单位】 电子科技大学
【曾工作单位】 电子科技大学;
【所在地域】 上海成都
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[1]单伟国;骆苏华;杨中海;李凌云;孙晓玮;.不同材料上共面波导线的损耗研究[J]固体电子学研究与进展.2006,(03)
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[1]单伟国.Si/SOI MMIC无源器件研究[D].电子科技大学.2005
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