杨劲秋
【姓名】 杨劲秋
【职称】
【研究领域】 无线电电子学;
【研究方向】
【发表文献关键词】 LUT,FPGA,工艺映射,模拟退火算法,面积优化,组合优化问题,目标函数,根节点,延迟,行计算,应用,电路,方案,覆盖问题,分解,路网络,结构,可编程,退火过程,有向图,
【工作单位】 电子科技大学
【曾工作单位】 电子科技大学;
【所在地域】 四川成都
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[1]杨劲秋;孙世新;.模拟退火算法在基于LUT结构的FPGA工艺映射中的应用[J]成都信息工程学院学报.2006,(04)
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中国优秀硕士学位论文全文数据库    共找到1篇
[1]杨劲秋.基于LUT结构的FPGA的工艺映射算法研究[D].电子科技大学.2006
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