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张开华
【姓名】
张开华
【职称】
【研究领域】
无线电电子学;自动化技术;
【研究方向】
【发表文献关键词】
半导体器件,CMOS,锁定效应,发展动态,集成电路,寄生,半导体集成电路,重掺杂,电讯工程,CMOS集成电路,温度,温度变化,给予注意,主要失效模式,温度测点,表征,发射区,国产器件,基区,分立器件,...
【工作单位】
成都电讯工程学院
【曾工作单位】
成都电讯工程学院;
【所在地域】
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中国期刊全文数据库
共找到2篇
[1]张开华,沈方,藤勇.
温度对CMOS锁定效应的影响及观测
[J]半导体技术.1986,(05)
[2]张开华.
半导体器件的发展动态
[J]微电子学.1988,(01)
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