藤勇
【姓名】 藤勇
【职称】
【研究领域】 自动化技术;
【研究方向】
【发表文献关键词】 CMOS,锁定效应,寄生,重掺杂,电讯工程,CMOS集成电路,温度,温度变化,给予注意,主要失效模式,温度测点,表征,发射区,基区,直线关系,CMOS电路,重掺杂半导体,铝栅CMOS,与温度无关的系数...
【工作单位】 成都电讯工程学院
【曾工作单位】 成都电讯工程学院;
【所在地域】
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[1]张开华,沈方,藤勇.温度对CMOS锁定效应的影响及观测[J]半导体技术.1986,(05)
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