陈庆方
【姓名】 陈庆方
【职称】 高级工程师;
【研究领域】 无线电电子学;电力工业;
【研究方向】
【发表文献关键词】 可测性设计,数模混合集成电路,层次化自测试,混合集成电路,数模,系统级测试,测试码,可测性,测试产生,压缩方法,模拟宏单元,测试响应,组合电路,故障覆盖率,模拟多路,特征多项式,模拟电路,压缩器,伪随...
【工作单位】 北京自动测试技术研究所
【曾工作单位】 北京自动测试技术研究所;
【所在地域】 北京
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[1]陈庆方,戴昌培.数模混合集成电路的可测性设计[J]电子测量与仪器学报.1994,(02)
[2]郭士瑞;赵振峰;陈庆方;.内建自测试技术(BIST)的测试产生和响应压缩方法[J]微电子测试.1996,(03)
[3]陈庆方,吴烈诩,戴昌培,赵振峰.VLSI与电子系统的层次化可测性设计[J]装甲兵工程学院学报.1996,(03)
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