王敬
【姓名】 王敬
【职称】
【研究领域】 无线电电子学;
【研究方向】
【发表文献关键词】 红外探测器,异质界面,HREM,p-Si,非晶,微结构,金属研究,SiO2层,高分辨像,高分辨电子显微像,微孪晶,过渡带,缺陷区,层错,分析测试,外延生长,多晶,光发射,技术研究所,异质结,量子效率,...
【工作单位】 北京有色金属研究总院分析测试技术研究所
【曾工作单位】 北京有色金属研究总院分析测试技术研究所;
【所在地域】 北京
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[1]刘安生,邵贝羚,安生,刘峥,王敬.红外探测器中的异质界面和缺陷的研究[J]电子显微学报.2000,(04)
[2]刘峥,邵贝羚,刘安生,王敬,王瑞忠,钱佩信.红外探测器微结构的HREM观察[J]半导体学报.1999,(09)
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中国重要会议全文数据库    共找到1篇
[1]刘安生;邵贝羚;安生;刘峥;王敬;.红外探测器中的异质界面和缺陷的研究[A].第十一次全国电子显微学会议论文集.2000-06-30
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