袁凯华
【姓名】 袁凯华
【职称】
【研究领域】 工业通用技术及设备;计算机硬件技术;
【研究方向】
【发表文献关键词】 分形,分形特征,分形维,微晶硅,硅薄膜,纳米硅,表面形貌,维数,光盘,形貌,纳米,后表面,材料结构,傅利叶分析,样品表,结构转变,无定形态,微晶,轮廓线,功率谱曲线,STM技术,记录介质,光盘记录介质...
【工作单位】 北京航空航天大学
【曾工作单位】 北京航空航天大学;
【所在地域】 北京
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[1]袁凯华，戎霭伦.STM研究光盘材料结构转变前后表面形貌的分形维数[J]材料工程.1994,(10)
[2]袁凯华,戎霭伦,何宇亮,万明芳,魏希文.微晶与纳米硅薄膜表面形貌分形特征的研究[J]科学通报.1996,(14)
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