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孙喆
【姓名】
孙喆
【职称】
【研究领域】
无线电电子学;
【研究方向】
【发表文献关键词】
晶片级测试,半导体器件,金属化,晶片级,承载台,电徙动,布线,探针台,可靠性,温控仪,测试系统,多探针,步进电机,电迁徙,接口设备,可靠性试验,样品提供,智能温控仪,热偶,自动更换,
【工作单位】
北京工业大学
【曾工作单位】
北京工业大学;
【所在地域】
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共找到1篇
[1]孙英华,郭伟玲,程尧海,孙喆 ,李志国,张万荣.
金属化布线晶片级测试系统
[J]半导体技术.1999,(01)
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合作过的学者
(学者,学者单位,篇数)
孙英华
北京工业大学
1
张万荣
北京工业大学
1
郭伟玲
北京工业大学
1
程尧海
北京工业大学
1
李志国
北京工业大学
1
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