孙静莹
【姓名】 孙静莹
【职称】
【研究领域】 无线电电子学;
【研究方向】
【发表文献关键词】 集成电路芯片,热分析方法,功耗,探测器,氧化锌,增透膜,单晶薄膜,淀积,紫外光探测器,透射率,电导型,折射率,响应度,电路性能,稳态温度分布,主要来源,响应时间,交替方向隐式法,芯片级,理论计算,氮化...
【工作单位】 北京工业大学
【曾工作单位】 北京工业大学;
【所在地域】 北京
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[1]张跃宗;冯士维;谢雪松;李瑛;杨集;孙静莹;吕长志;.半导体功率发光二极管温升和热阻的测量及研究[J]半导体学报.2006,(02)
[2]杨集;冯士维;王承栋;张跃宗;李瑛;孙静莹;.InP/InGaAs PIN红外探测器增透膜的研究[J]半导体技术.2006,(08)
[3]孙静莹;冯士维;李瑛;杨集;张跃宗;.集成电路芯片级的热分析方法[J]微电子学与计算机.2006,(07)
[4]冯士维;李瑛;孙静莹;谢雪松;杨集;张跃宗;卢毅成;.ZnO紫外光电导型探测器的制备与研究[J]北京工业大学学报.2007,(07)
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