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[1]吕长志;张小玲;谢雪松;程尧海;王东凤;李志国;.国产晶体管的长期贮存可靠性[J]电子产品可靠性与环境试验.2009,(S1)
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[2]郭春生;谢雪松;马卫东;李志国;程尧海;.快速评价半导体器件失效激活能的方法[J]半导体技术.2006,(02)
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[3]郭春生;谢雪松;马卫东;程尧海;李志国;.加速试验中失效机理一致性的判别方法[J]半导体学报.2006,(03)
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[4]郭春生;李志国;马卫东;谢雪松;程尧海;.基于序进应力加速试验评价器件寿命的方法[J]北京工业大学学报.2007,(01)
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[5]李志国,宋增超,孙大鹏,程尧海,张万荣,周仲蓉.GaAs MESFET可靠性及快速评价新方法的研究[J]半导体学报.2003,(08)
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[6]周仲蓉,郭春生,程尧海,李志国,邹琼,张增照,莫郁薇.MCM-C中厚膜电阻的寿命分布及退化规律的研究[J]电子产品可靠性与环境试验.2003,(05)
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[7]李志国,李杰,郭春生,程尧海.微电子器件多失效机理可靠性寿命外推模型[J]电子产品可靠性与环境试验.2004,(04)
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[8]李杰,郭春生,莫郁薇,谢雪松,程尧海,李志国.快速确定微电子器件失效激活能及寿命试验的新方法[J]半导体学报.2005,(08)
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[9]魏顺宇,李志国,程尧海,黄瑞毅,周敏.多芯片组件的三维温场有限元模拟与分析[J]微电子学.2005,(04)
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[10]付厚奎;吴月花;刘志民;郭春生;李志国;程尧海;吉元;崔伟;.ULSI/VLSI中铝互连线热应力的数值模拟[J]微电子学.2005,(06)
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