周天夷
【姓名】 周天夷
【职称】
【研究领域】 无线电电子学;
【研究方向】
【发表文献关键词】 电迁徙,温度梯度,金属化,VLSI,电阻测温法,可靠性,热应力,失效时间,布线,离子流,电子风,温度分布,自加热,不同取向,正向,失效位,电流应力,电流密度,散度,寿命实验,
【工作单位】 北京工业大学
【曾工作单位】 北京工业大学;
【所在地域】
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[1]郭伟玲,李志国,周天夷,孙英华,张万荣,沈光地.热应力条件下VLSI金属化布线的可靠性[J]微电子学.1998,(03)
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