王旭社
【姓名】 王旭社
【职称】
【研究领域】 仪器仪表工业;无线电电子学;
【研究方向】 CMOS集成电路设计和研究工作
【发表文献关键词】 电荷分享,环栅MOSFET,双栅MOSFET,阈值电压下降,短沟效应,环栅,双栅,MOSFET,阈值电压,电压下降,阈值,器件结构,强反型,模型公式,耗尽层,深亚微米,半导,器件性能,IEEE,子学,
【工作单位】 北京大学
【曾工作单位】 北京大学;
【所在地域】 北京
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[1]甘学温,王旭社,张兴.双栅和环栅MOSFET中短沟效应引起的阈值电压下降[J]半导体学报.2001,(12)
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中国重要会议全文数据库    共找到1篇
[1]甘学温;王旭社;张兴;.环栅和双栅MOSFET短沟效应分析[A].第一届全国纳米技术与应用学术会议论文集.2000-11-01
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