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晏懋洵
【姓名】
晏懋洵
【职称】
【研究领域】
物理学;无线电电子学;数学;
【研究方向】
【发表文献关键词】
深能级,深能级杂质,深能级瞬态谱,质子注入,非晶硅太阳电池,微观结构,对称性,中子辐照,三空位,掺杂硅,等时退火,DLTS,晶向,辐照缺陷,角度变化,苯甲醛,深中心,磁共振,顺磁性,禁带,光解,EPR...
【工作单位】
北京大学
【曾工作单位】
北京大学;
【所在地域】
北京
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共找到16篇
[1]杜永昌,晏懋洵.
深能级瞬态谱仪
[J]物理.1981,(02)
[2]晏懋洵,毛晋昌,陈开茅.
用电容瞬态技术测量界面态密度
[J]半导体技术.1982,(04)
[3]晏懋洵.
测量半导体中深中心分布的双相关技术
[J]物理.1982,(07)
[4]吴书祥,晏懋洵,华宗璐,张玉峰,杜永昌.
高阻硅中子嬗变掺杂高温退火后的缺陷
[J]北京大学学报(自然科学版).1982,(06)
[5]吴书祥,晏懋洵,杜光庭,孟祥提.
用DLTS研究中子嬗变掺杂硅中的电子陷阱
[J]半导体学报.1982,(03)
[6]陈开茅,毛晋昌,晏懋洵,吴恩,曾奇勇.
硅中金的空穴俘获截面的研究
[J]北京大学学报(自然科学版).1983,(02)
[7]秦国刚,晏懋洵.
集成电路中的物理问题讲座第四讲 半导体中深能级杂质缺陷与深能级瞬态谱
[J]物理.1985,(07)
[8]杜永昌,晏懋洵,张玉峰,郭海,胡克良.
原子氢、氘钝化以及质子注入掺杂硅的红外吸收
[J]物理学报.1987,(11)
[9]吴书祥,晏懋洵,许惠英,毛晋昌,吴恩.
中子辐照硅中一个新的EPR缺陷及氢对它的影响
[J]中国科学(A辑 数学 物理学 天文学 技术科学).1987,(05)
[10]晏懋洵,吴书祥,许惠英,吴恩,毛晋昌,林旋英,张光华,刘嘉.
非晶硅太阳电池的光伏检测磁共振研究
[J]物理学报.1988,(05)
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