黎宏志
【姓名】 黎宏志
【职称】
【研究领域】 物理学;
【研究方向】
【发表文献关键词】 隙态密度,V法,低频,局域态,局域态密度,深能级瞬态谱,肖特基势垒二极管,非晶硅,测试频率,态密度,单晶,禁带,非晶态半导体,相敏检波器,电压放大,电流放大,正向偏压,费米能级,北京大学,a-Si,
【工作单位】 北京大学
【曾工作单位】 北京大学;
【所在地域】
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[1]杜永昌,李高斌,黎宏志,张玉峰.用低频C-V法测量a-Si:H的隙态密度[J]物理.1983,(11)
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