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高珊
【姓名】
高珊
【职称】
讲师;
【研究领域】
无线电电子学;计算机硬件技术;物理学;
【研究方向】
微电子学
【发表文献关键词】
LDMOS,闩锁效应,高温LDD CMOS集成电路,击穿电压,解析表达式,耐压结构,功率器件,导通电阻,阱区,双扩散MOS晶体管,解析模型,维持电流,CMOS集成电路,分布电阻,基区,横向扩散金属氧化...
【工作单位】
安徽大学
【曾工作单位】
安徽大学;
【所在地域】
安徽合肥
学术成果产出统计表
今年新增
/文献篇数
核心期刊论文数
基金论文数
第一作者篇数
总被引频次
总下载频次
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文献数(该学者统计年度当年发文总文献数)
被引频次(该学者统计年度当年发文总被引频次)
浏览趋势(该学者统计年度当年发文总浏览频次)
下载频次(该学者统计年度当年发文总下载频次)
学术成果产出明细表
中国期刊全文数据库
共找到28篇
[1]范慧;高珊;.
失衡与弥合:代际交换视角下老龄社会家庭功能的重塑
[J]延安大学学报(社会科学版).2026,(02)
[2]高珊;李洋;郝礼才;赵强;彭春雨;蔺智挺;吴秀龙;.
NMOS晶体管电荷共享导致的SRAM单元单粒子翻转恢复效应研究
[J]中国集成电路.2024,(06)
[3]储晓磊;高珊;李尚君;.
VDMOS器件高温热载流子效应的研究
[J]固体电子学研究与进展.2016,(01)
[4]王栋;周爱榕;高珊;.
复合型栅氧化层薄膜双栅MOSFET研究
[J]固体电子学研究与进展.2015,(01)
[5]周爱榕;王栋;高珊;陈军宁;.
全耗尽阶梯掺杂沟道围栅MOSFET二维解析模型
[J]固体电子学研究与进展.2015,(02)
[6]李尚君;高珊;储晓磊;.
双栅MOSFET沟道侧壁绝缘柱(DP)表面势解析模型
[J]固体电子学研究与进展.2015,(05)
[7]王建军;周星;高珊;陈军宁;.
基于第一性原理计算的Ti掺杂ZrO_2的阻变存储机理
[J]半导体技术.2013,(11)
[8]周星;王建军;高珊;陈军宁;.
基于第一性原理计算的ZrO_2材料的掺杂阻变特性
[J]半导体技术.2013,(10)
[9]王龙;高珊;陈军宁;柯导明;.
线性变掺杂高阻漂移区LDMOS导通电阻的建模
[J]电子技术.2011,(05)
[10]张志伟;高珊;陈军宁;罗扣;.
基于LDMOS栅漏电容特性的研究
[J]电力电子技术.2012,(03)
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中国博士学位论文全文数据库
共找到1篇
[1]高珊.
复合栅多阶梯场极板LDMOS电学特性的研究
[D].安徽大学.2007
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中国优秀硕士学位论文全文数据库
共找到1篇
[1]高珊.
LDMOS的电学特性分析与建模
[D].安徽大学.2004
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中国重要会议全文数据库
共找到1篇
[1]孟坚;高珊;陈军宁;柯导明;孙伟锋;时龙兴;徐超;.
用阱作高阻漂移区的LDMOS导通电阻的解析模型
[A].2005年“数字安徽”博士科技论坛论文集.2005-12-10
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冯辉
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(学者,学者单位,篇数)
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2
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1
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