丁文祥
【姓名】 丁文祥
【职称】
【研究领域】 无线电电子学;
【研究方向】
【发表文献关键词】 IP核,RISC结构,验证与测试,行为级仿真,RISC,SoC芯片,Xilinx,测试平台,行为级,测试实例,VHDL,测试激励,设计模块,IP设计,电子教研室,测试程序,FPGA芯片,处理器,时序仿...
【工作单位】 中国科学技术大学
【曾工作单位】 中国科学技术大学;
【所在地域】 安徽合肥
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[1]金西,丁文祥,贠超.RISC结构的IP核验证与测试[J]半导体技术.2003,(11)
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