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戴畅
【姓名】
戴畅
【职称】
【研究领域】
无线电电子学;
【研究方向】
【发表文献关键词】
统计模拟,器件特性,电路性能,工艺干扰,涨落,VLSI,工艺控制参数,NMOS,工艺参数,统计分析,联合密度函数,几何结构参数,工艺分析,数字集成电路,成品率,统计模,几何结构尺寸,逆映射,模拟控制器...
【工作单位】
河海大学
【曾工作单位】
河海大学;
【所在地域】
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共找到1篇
[1]戴畅,何野,魏同立.
逆向统计模拟及在VLSI统计分析中的应用
[J]固体电子学研究与进展.1989,(03)
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