张勇
【姓名】 张勇
【职称】
【研究领域】 计算机硬件技术;
【研究方向】
【发表文献关键词】 BIST,SRAM故障模型,March算法,SRAM测试,内建自测试,测试算法,Marc,储器,组合故障,算法,故障模型,短路故障,存储单元,控制器,逻辑值,算法复杂度,存储器测试,数据维,数据线,反...
【工作单位】 桂林电子工业学院
【曾工作单位】 桂林电子工业学院;
【所在地域】 广西桂林
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[1]张勇,谈恩民.板级SRAM的内建自测试(BIST)设计[J]桂林电子工业学院学报.2004,(02)
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中国重要会议全文数据库    共找到1篇
[1]谈恩民;张勇;.一种新型的可编程存储器BIST设计[A].2004全国测控、计量与仪器仪表学术年会论文集（下册）.2004-09-01
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