黄卫东
【姓名】 黄卫东
【职称】
【研究领域】 无线电电子学;自动化技术;工业通用技术及设备;
【研究方向】 电子器件及封装的可靠性
【发表文献关键词】 倒装焊,底充胶分层,固化,硅压阻应力传感器,能量释放率,有限元模拟,高G值加速度传感器,塑封材料,电子封装,封接材料,高G值,残余应力,传感器封装,底充胶,吸水,分层,板上芯片,失效,位置,频域分析,...
【工作单位】 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
【曾工作单位】 中国科学院上海微系统与信息技术研究所;
【所在地域】 上海
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[1]彩霞,黄卫东,徐步陆,程兆年.填充不流动胶的倒装焊封装中芯片的断裂问题[J]半导体学报.2003,(01)
[2]黄卫东,孙志国,彩霞,罗乐,程兆年.板上芯片固化后残余应力分布的有限元模拟[J]半导体学报.2003,(06)
[3]徐步陆,张群,彩霞,黄卫东,谢晓明,程兆年.低成本基板倒装焊底充胶分层裂缝扩展研究[J]应用力学学报.2003,(02)
[4]黄卫东,王旭洪,盛玫,徐立强,Frank Stubhan,罗乐,冯涛,王曦,张富民,邹世昌.有机发光器件的低温氮化硅薄膜封装[J]功能材料与器件学报.2003,(02)
[5]黄卫东,王旭洪,王莉,盛玫,徐立强,Frank Stubhan,罗乐.电子封装中氮化硅/硅酮双层薄膜的水汽防护研究[J]腐蚀科学与防护技术.2004,(05)
[6]徐步陆,张群,彩霞,黄卫东,谢晓明,程兆年.倒装焊电子封装底充胶分层研究[J]功能材料与器件学报.2002,(02)
[7]孙志国,黄卫东,张群,罗乐,程兆年.粘接剂对直接粘贴芯片表面残余应力的影响[J]功能材料与器件学报.2002,(02)
[8]黄卫东,彩霞,徐步陆.封装对MEMS高G值传感器性能的影响[J]功能材料与器件学报.2002,(03)
[9]孙志国,黄卫东,蒋玉齐,罗乐.COB封装中芯片在基板不同位置的残余应力[J]功能材料与器件学报.2002,(04)
[10]彩霞,陈柳,张群,徐步陆,黄卫东,谢晓明,程兆年.倒扣芯片连接焊点的热疲劳失效[J]半导体学报.2002,(06)
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